Keywords: EUV spectroscopy

  • 40–70 eV 領域の M吸収端 XMCD のためのパラジウム鏡による広帯域位相遅延

    磁性材料はデータ記録や次世代電子技術に不可欠です。本研究では、磁性を元素ごとに調べるための特殊な光を、パラジウム鏡で効率よく作れることを示しました。従来より安定で構造も簡単になり、複数の磁性元素を同時に観測できます。新しい磁性材料研究を支える重要な技術です。